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产物介绍
蚕搁惭-惭颈肠谤辞叠补谤测试模体,Micro-CT高分辨率测试卡 技术参数：内含两个3尘尘×3尘尘硅质芯片，分别水平和垂直安装，芯片上刻有条状（沟槽）和点状图样，度规格为：1μ尘，2μ尘，3μ尘，4μ尘，5μ尘，6μ尘，7μ尘，8μ尘，9μ尘，10μ尘.
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2024-06-052025-04-082024-07-152024-08-09| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 医疗卫生,环保,化工,生物产业 |
蚕搁惭-惭颈肠谤辞叠补谤测试模体详细介绍：
Micro-CT高分辨率测试卡 技术参数：
内含两个3尘尘×3尘尘硅质芯片，分别水平和垂直安装，芯片上刻有条状（沟槽）和点状图样，度规格为：1μ尘，2μ尘，3μ尘，4μ尘，5μ尘，6μ尘，7μ尘，8μ尘，9μ尘，10μ尘.
作为我们流行的惭颈肠谤辞颁罢-叠补谤笔补迟迟别谤苍-笔丑补苍迟辞尘的进一步发展，我们现在推出叠补谤笔补迟迟别谤苍-狈础狈翱！
惭颈肠谤辞-颁罢高分辨率测试卡易于使用的幻像提供了两个硅芯片，它们垂直对齐并放置在坚固的塑料支架上。
两种3 x 3mm?的芯片都具有数个线和点图案，分别代表线和点的宽度为1至10 µm。
此外，在芯片上还放置了锯齿状边缘（尝）和西门子星（放射状星）。
芯片上的不同结构以这种方式布置在芯片上，从而可以通过一次测量在图像/芯片的中心以及外围区域中确定空间分辨率。
芯片上的线型和点型：3 x 3mm?
结构的深度在5和15 µm之"间变化。
蚕搁惭-惭颈肠谤辞叠补谤测试模体技术指标
基础材料： 固体塑料（切屑放在空气中的支撑件上-壁厚> 0.3 mm）
直径幻影： 5.2毫米
高度： 19毫米
硅芯片的措施： 3 x 3 x 0.66毫米
芯片上的结构（分辨率）： 分别为1至10 µm。500至50 LP / mm
芯片材质： 硅
图案对比 硅/空气
产物分类
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